DNP高精細(xì)度透過型噪點(diǎn)測(cè)試卡簡介

1.用于測(cè)試噪點(diǎn)。

2.測(cè)試卡分為以下2個(gè)區(qū)域。

• （1）第一區(qū)域是直徑為h的圓內(nèi)
• （2）第二區(qū)域是直徑為√2h的圓內(nèi)
• （3）第三部分是剩下的部分

3.區(qū)域的區(qū)分線盡量使用細(xì)線。

4.這張測(cè)試卡只有透過型

DNP高精細(xì)度透過型噪點(diǎn)測(cè)試卡尺寸

有效尺寸：272×153

外形尺寸：310×200